可靠性偏压老化设备,可靠性偏压老化设备价格|报价-苏州安而森试验设备有限公司

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苏州安而森试验设备有限公司

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联系人：刘梓牧（副总经理）

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小型高温反偏试验系统HTRB

详细摘要：小型高温反偏试验系统HTRBAS-HTRB-C8小型高温反偏测试系统用于研发部分评估封装工艺的稳定性，加速缺陷失效率，剔除有隐患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔...
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2025-04-25 在线留言
间歇寿命试验系统IOL

详细摘要：间歇寿命试验系统IOL产品特点
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2025-04-25 在线留言
高温栅偏试验系统HTGB

详细摘要：高温栅偏试验系统HTGB高温栅偏试验系统满足各种封装形式IGBT模块高温栅偏试验HTGB和高温漏电流测试HTIR。用于评估功率模块工艺的稳定性，加速缺陷失效率，...
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2025-04-25 在线留言
高温反偏试验系统HTRB

详细摘要：高温反偏试验系统HTRB适用于IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的高温反偏试验;产品应用覆盖DIP、SOP、SOT、SOD、T...
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2025-04-25 在线留言
高温高湿反偏试验系统H3TRB

详细摘要：高温高湿反偏试验系统H3TRB高温高湿反偏试验系统（H3TRB)用于功率半导体器件的环境老化试验，比如 Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/MOS...
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2025-04-25 在线留言